Die veschiedenen Leiterplattentypen haben jeweils eine eigene Prüfsequenz mit unterschiedlen Testschritten, die durchlaufen werden. Pseudofehler sind bei pro Leiterplattentyp unterschiedlich häufig vertreten oder ausgeprägt – dadurch haben wir ein Model pro Leiterplatte nun im Betrieb. Durch die Datenlage kommen nur Modelklassen in Frage, die auch mit wenigen Beispielen gut lernen können. Wir prüfen dabei verschiedene Ensemble Methoden, SVMs und einfache Entscheidungsbäume um das beste Model für jede Leiterplatte zu finden. Alle Modelle lernen jedoch den gleichen Klassifizierungs-Task: Prüfdaten einer Leiterplatte -> LP defekt, Retest, Teststationsfehler?